• 全新32位核心处理器,数据媲美国外一流设备
• 4.3寸真彩TFT显示屏
• 30Q、100Q两种不同信号源输出电阻
•内置比较器,5级灵活定量及缺陷报警方式停机自动保存测试条件,人性化操作
• 内部100多组设置文件,U盘扩展保存多组测试或调用简体中文,英文可选
测量功能 |
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LCR测试参数 |
| Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ |
测试频率 |
10k* : 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz 20万: 40Hz、50Hz、60Hz、75Hz、100Hz、120Hz、150Hz、200Hz、250Hz、300Hz、400Hz、500Hz、600Hz、750Hz、800Hz、1kHz、1.5kHz、2kHz、2.5kHz、3kHz、4kHz、5kHz、6kHz、7.5kHz 、10kHz、12kHz、15kHz、15.7kHz、16.2kHz、20kHz、25kHz、30kHz、40kHz、50kHz、60kHz、66.6kHz、75kHz、100kHz、120kHz、150kHz、200kHz |
基本测量精度 |
0.1% (10k*:0.15%) |
等效电路 |
串联、并联 |
数学函数 |
绝对偏差、百分比偏差 |
范围模式 |
AUTO、HOLD、手动选择 |
触发方式 |
内部、外部 |
速度(≥1kHz) |
FAST:每秒少于 30 次, MED:每秒 10 次, 慢:每秒3次, |
平均数 |
1—255 |
延迟时间 |
0—6s, 1ms 步长 |
校准功能 |
快速清除/单短路/单开 |
测试终端 |
五个终端 |
显示模式 |
直接显示,Δ,Δ%,V/I |
监视器 |
5位分辨率,4.3英寸液晶显示器 |
测试信号 |
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输出阻抗 |
30Ω、 100Ω |
测试信号电平 |
0.1V、0.3V、1V;准确度:5% (0.05V,0.1V,0.2V,0.25V,0.3V,0.4V,0.5V,1V,部分型号有) |
显示范围 |
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|Z|, R, X |
0.01m Ω — 99.999 MΩ |
|Y|, G, B |
0.0001µS — 99.999 S |
C |
0.0001 pF — 9.9999 F |
大号 |
0.0001 µH — 999.99 H |
D |
0.0001 — 9.9999 |
问 |
0.0001 — 99999 |
θ (度) |
-179.99º — 179.99º |
θ (RAD) |
-3.14159 — 3.14159 |
其他 |
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比较器功能 |
五种BIN排序功能(BIN1,BIN2,BIN3,AUX,OUT) |
贮存 |
内部:105;外部可以节省500 |
界面 |
标准:RS232C,USB HOST,HANDLER(10k* & 30k* no)、 |